測量/分析軟件/實驗室測量設(shè)備制造商 Microtrac Retsch GmbH

Microtrac Retsch GmbH

關(guān)于我們
Microtrac MRB 提供最全面的產(chǎn)品組合，用于對各種樣品進行顆粒表征。所提供的技術(shù)包括激光衍射、動態(tài)光散射、靜態(tài)
和動態(tài)圖像分析以及
用于確定表面積和孔徑分布的氣體吸附和壓汞孔隙率測定法。


借助CAMSIZER X2和SYNC， Microtrac 提供基于動態(tài)圖像分析和激光衍射的增材制造金屬粉末顆粒表征解決方案。

德國

https://www.microtrac.com/

電話+49 2104 2333300

粒子分析儀 SYNC描述

SYNC – 粒子分析的新維度
Microtrac MRB SYNC 分析儀為激光衍射技術(shù)的傳統(tǒng)用戶提供了激動人心的新功能來表征他們的材料。經(jīng)過驗證的三激光技術(shù)可以從 163 度角散射中檢測到的光中提供準確且可重復(fù)的激光衍射信息。當與同時捕捉粒子流圖像的最先進的相機技術(shù)相結(jié)合時，SYNC 不僅提供尺寸數(shù)據(jù)，還提供有關(guān)材料形狀和分散質(zhì)量的其他信息。SYNC

的專利同步測量技術(shù)允許用戶同時在同一個樣品池中對單個樣品進行激光衍射測量和圖像分析：一個樣品、一個光學(xué)平臺、一個流路、一個樣品池、一個集成 GUI、一個分析。

這使得 SYNC 非常適合常規(guī) QC 和研究應(yīng)用；它為研究人員在開發(fā)新材料和新工藝時提供寶貴的信息。強大的軟件界面既提供粒度分布信息，也提供多種形態(tài)參數(shù)。獲得專利的 BLEND 程序允許用戶檢查從 0.01 微米到 4000 微米的廣泛尺寸范圍內(nèi)的材料。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2描述

完美表征細粉

CAMSIZER X2是一款功能強大、用途極為廣泛的粒度和形狀分析儀，具有寬測量范圍，結(jié)合了最先進的攝像技術(shù)和靈活的分散選項?；趧討B(tài)圖像分析 (ISO 13322-2) 原理，CAMSIZER X2 可提供粉末、顆粒和懸浮液在 0.8 μm 至 8 mm 測量范圍內(nèi)的精確粒度和形狀信息。CAMSIZER

X2 產(chǎn)生的粒子流的特點是光學(xué)系統(tǒng)具有高分辨率。超亮 LED 頻閃光源和兩個高分辨率數(shù)碼相機的幀速率超過每秒 300 張圖像，并通過強大的軟件進行實時評估。因此，CAMSIZER X2 可在僅 1 到 3 分鐘內(nèi)以最高精度捕獲數(shù)十萬到數(shù)百萬個粒子的圖像。CAMSIZER

X2 提供了廣泛的粒子信息選擇，可以全面可靠地表征樣品材料。它適用于研發(fā)以及質(zhì)量控制的日常任務(wù)。