測量/分析軟件/實驗室測量設(shè)備制造商 Microtrac Retsch GmbH

Microtrac Retsch GmbH

關(guān)于我們
Microtrac MRB 提供最全面的產(chǎn)品組合，用于對各種樣品進(jìn)行顆粒表征。所提供的技術(shù)包括激光衍射、動態(tài)光散射、靜態(tài)
和動態(tài)圖像分析以及
用于確定表面積和孔徑分布的氣體吸附和壓汞孔隙率測定法。


借助CAMSIZER X2和SYNC， Microtrac 提供基于動態(tài)圖像分析和激光衍射的增材制造金屬粉末顆粒表征解決方案。

德國

https://www.microtrac.com/

電話+49 2104 2333300

粒子分析儀 SYNC描述

SYNC – 粒子分析的新維度
Microtrac MRB SYNC 分析儀為激光衍射技術(shù)的傳統(tǒng)用戶提供了激動人心的新功能來表征他們的材料。經(jīng)過驗證的三激光技術(shù)可以從 163 度角散射中檢測到的光中提供準(zhǔn)確且可重復(fù)的激光衍射信息。當(dāng)與同時捕捉粒子流圖像的最先進(jìn)的相機技術(shù)相結(jié)合時，SYNC 不僅提供尺寸數(shù)據(jù)，還提供有關(guān)材料形狀和分散質(zhì)量的其他信息。SYNC

的專利同步測量技術(shù)允許用戶同時在同一個樣品池中對單個樣品進(jìn)行激光衍射測量和圖像分析：一個樣品、一個光學(xué)平臺、一個流路、一個樣品池、一個集成 GUI、一個分析。

這使得 SYNC 非常適合常規(guī) QC 和研究應(yīng)用；它為研究人員在開發(fā)新材料和新工藝時提供寶貴的信息。強大的軟件界面既提供粒度分布信息，也提供多種形態(tài)參數(shù)。獲得專利的 BLEND 程序允許用戶檢查從 0.01 微米到 4000 微米的廣泛尺寸范圍內(nèi)的材料。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2描述

完美表征細(xì)粉

CAMSIZER X2是一款功能強大、用途極為廣泛的粒度和形狀分析儀，具有寬測量范圍，結(jié)合了最先進(jìn)的攝像技術(shù)和靈活的分散選項?；趧討B(tài)圖像分析 (ISO 13322-2) 原理，CAMSIZER X2 可提供粉末、顆粒和懸浮液在 0.8 μm 至 8 mm 測量范圍內(nèi)的精確粒度和形狀信息。CAMSIZER

X2 產(chǎn)生的粒子流的特點是光學(xué)系統(tǒng)具有高分辨率。超亮 LED 頻閃光源和兩個高分辨率數(shù)碼相機的幀速率超過每秒 300 張圖像，并通過強大的軟件進(jìn)行實時評估。因此，CAMSIZER X2 可在僅 1 到 3 分鐘內(nèi)以最高精度捕獲數(shù)十萬到數(shù)百萬個粒子的圖像。CAMSIZER

X2 提供了廣泛的粒子信息選擇，可以全面可靠地表征樣品材料。它適用于研發(fā)以及質(zhì)量控制的日常任務(wù)。