3DOE PTS-M200 玉雕3D掃描儀

3DOE PTS-M200 玉雕3D掃描儀
PTS-M200玉雕三維掃描儀 運用國際上先進的非接觸、結(jié)構(gòu)光、面掃描技術(shù)和精易迅在機器視覺領(lǐng)域的專利技術(shù)開發(fā)的高科技產(chǎn)品，高精度測量復(fù)雜曲面，操作簡捷迅速 ，廣泛應(yīng)用于木雕、玉雕、精雕等雕刻行業(yè)的設(shè)計和應(yīng)用。

產(chǎn)品特點
3DOE PTS玉雕三維掃描儀 （抄數(shù)機）,最新一代的非接觸照相式測量系統(tǒng)。是機器視覺、結(jié)構(gòu)光測量技術(shù)的結(jié)合。采用進口高精密工業(yè)CCD傳感器，LED冷光源：
非接觸、便攜式結(jié)構(gòu)設(shè)計,型號可調(diào),一機多用：利用照相式原理，進行非接觸式三維光學(xué)掃描，得到物體表面三維數(shù)據(jù)。而且適應(yīng)了柔軟、易變形物體的測量要求，設(shè)備硬件體型小，占地少，無噪音，可方便帶至測量現(xiàn)場，也可以在掃描大型重型物體時移動掃描設(shè)備
強大的細節(jié)捕獲能力，測量精度高，測量精度可達0.02mm~0.05mm
測量速度快,單面掃描時間<=5 秒，測量點距云數(shù)據(jù)非常規(guī)則
測量景深大：景深范圍為300~500mm<
標記點全自動拼接，智能融合為單層點云；掃描過程中測試物體可以任意翻轉(zhuǎn)移動，通過對標志點的拼接加以形成物體三維測量測量數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)物體全方位掃描。減少了測量的死角與掃描盲區(qū)。
解析度高:高密度的點云資料，物體的精細部位可以清晰描述
掃描范圍廣：可以掃描小至幾毫米大至幾米的物體，掃描范圍可自由選擇，適合不同大小產(chǎn)品掃描
8.PTS系統(tǒng)全局誤差控制
對環(huán)境要求低：正常環(huán)境光對該掃描系統(tǒng)沒有多大影響，在正常辦公環(huán)境光線下都能獲得高質(zhì)
自行研發(fā)制造，自主軟件知識產(chǎn)權(quán)
保障軟件不斷免費升級,適合將來更高層次和更新要求
操作簡單，一鍵式掃描，不需過多的培訓(xùn)（2－3個工作日）即可以熟練操作
測量輸出數(shù)據(jù)接口豐富：測量所得的點云數(shù)據(jù)為ASC、STL、PLY、IGES、OBJ、DXF等,可直接與Surface r、image ware、UG、CATIA、Geomagic、Pro/E、Master CAM 等軟件進行數(shù)據(jù)交換
::: 應(yīng)用范圍 :::
適用于木雕、玉雕、精雕等雕刻行業(yè)的設(shè)計等諸多領(lǐng)域。
::: 技術(shù)特征 :::
強大的細節(jié)捕獲能力，測量精度高，測量精度可達0.02mm~0.05mm
測量速度快,單面掃描時間<=5 秒，測量點距云數(shù)據(jù)非常規(guī)則
高密度的點云資料，物體的精細部位可以清晰描述
測量景深大：景深范圍為300~500mm
自行研發(fā)制造，自主軟件知識產(chǎn)權(quán)
保障軟件不斷免費升級,適合將來更高層次和更新要求
::: 產(chǎn)品規(guī)格 :::
規(guī)格 3DOE PTS-M200 玉雕3D掃描儀
產(chǎn)品型號： PTS-M200 玉雕專用三維掃描儀
掃描方式： 非接觸式 面掃描
單幅掃描范圍(mm2)： 100×75～200×150～400×300
最大測量范圍(mm3)： 2000×1500×1500
測量精度(mm)： 0.02～0.05
單幅掃描點數(shù)(像素)： 1,300,000×2
單面掃描速度： <5S
平均點距(mm)： 0.05～0.3
輸出文件格式： ASC,IGES, STL, VRML, DXF等
拼接方式： 標記點全自動拼接, 智能融合為單層點云
操作系統(tǒng)： Windows2000 / XP / Vista